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中國(guó)科學(xué)家利用范德華異質(zhì)結(jié)研發(fā)高分辨微型光譜儀
2022/10/25來(lái)源:DeepTech深科技閱讀:539 次

       如今,光譜儀已成為工業(yè)檢測(cè)、化學(xué)、生物分析以及地質(zhì)勘探等領(lǐng)域不可缺少的重要儀器。由于各種便攜設(shè)備和片上集成系統(tǒng)發(fā)展迅速,對(duì)微型化、高性能(包括高分辨率及寬帶響應(yīng)等)光譜儀的需求日益迫切。

       近期,研究者將計(jì)算重構(gòu)光譜技術(shù)應(yīng)用于光譜儀微型化,通過(guò)預(yù)校準(zhǔn)并根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)特征,可實(shí)現(xiàn)基于計(jì)算重構(gòu)算法的未知光譜重構(gòu)。

       但是,這些基于計(jì)算重構(gòu)算法的微型化光譜儀的性能還十分受限,分辨率和工作帶寬通常會(huì)受到探測(cè)器數(shù)量及工作溫度等條件的影響。因此,科學(xué)家于近日開(kāi)發(fā)出一種新型可調(diào)范德華異質(zhì)結(jié)的超微型光譜儀,尺寸僅為數(shù)微米。相關(guān)論文以《帶有可調(diào)諧范德華結(jié)的小型化光譜儀》(Miniaturized spectrometers with a tunable van der Waals junction)為題發(fā)表于 Science 期刊。

       該論文由芬蘭阿爾托大學(xué)(Aalto University)孫志培院士團(tuán)隊(duì)、上海交通大學(xué)蔡偉偉教授團(tuán)隊(duì)、浙江大學(xué)楊宗銀教授團(tuán)隊(duì)、四川大學(xué)崔漢驍教授團(tuán)隊(duì)以及英國(guó)劍橋大學(xué)的陶菲克·哈桑(Tawfique Hasan)教授團(tuán)隊(duì)等合作完成。值得一提的是,這篇論文是該國(guó)際合作團(tuán)隊(duì)在 Science 上發(fā)表的關(guān)于微型光譜儀的第三篇論文。

       孫志培院士評(píng)論說(shuō):“該種方式相比于基于陣列探測(cè)器的光譜儀能進(jìn)一步減小尺寸。另外,該方案可通過(guò)改變材料實(shí)現(xiàn)更寬的光譜探測(cè)范圍?!?/p>

       傳統(tǒng)的光譜儀微型化技術(shù)路徑通過(guò)犧牲部分性能,利用先進(jìn)微納米加工技術(shù)將傳統(tǒng)分光元件盡可能縮小至毫米量級(jí),但要想進(jìn)一步小型化仍然具有極大的挑戰(zhàn)。

       為解決這項(xiàng)難題,研究人員利用二維材料優(yōu)異的光電響應(yīng)特性,以及其構(gòu)成范德華異質(zhì)結(jié)時(shí)豐富的可選性,制造出全新的基于計(jì)算重構(gòu)算法的高性能微型光譜儀。

       該微型光譜儀擁有許多創(chuàng)新之處。具體來(lái)說(shuō),研究團(tuán)隊(duì)首次提出并實(shí)現(xiàn)范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀,突破了傳統(tǒng)光譜儀尺寸極限,在微米量級(jí)單個(gè)異質(zhì)結(jié)中實(shí)現(xiàn)了光譜探測(cè)。

       具體來(lái)講,就是在上文提到的異質(zhì)結(jié)中,通過(guò)調(diào)節(jié)柵壓使波長(zhǎng)依賴(lài)的響應(yīng)度呈現(xiàn)明顯變化。

       不僅如此,研究者還首次在微米尺度下實(shí)現(xiàn) 0.36 納米的窄帶光譜準(zhǔn)確度,以及 3 納米的復(fù)雜寬帶光譜分辨率,并利用該光譜儀成功實(shí)現(xiàn)宏觀光譜成像。

       該工作不僅為高性能光譜儀的微型化提供全新思路,也為大規(guī)模片上光子系統(tǒng)集成等先進(jìn)技術(shù)實(shí)現(xiàn)了重要的基礎(chǔ)性突破。

       孫志培院士評(píng)價(jià)說(shuō):“與傳統(tǒng)光譜儀不同,范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀采用完全不同的技術(shù)路線。光譜儀中無(wú)需采用任何分光元件而僅由一個(gè)范德華異質(zhì)結(jié)探測(cè)器構(gòu)成。該探測(cè)器由幾層不同的二維材料堆疊而成,因此當(dāng)厚度縮小至納米級(jí)別時(shí),橫向尺寸也僅為微米量級(jí)。”

       將范德華異質(zhì)結(jié)可調(diào)光譜響應(yīng)和計(jì)算重構(gòu)算法結(jié)合,制造出更高性能微型光譜儀

       在本工作中,研究人員將范德華異質(zhì)結(jié)可調(diào)光譜響應(yīng)和計(jì)算重構(gòu)算法相結(jié)合,在單一范德華異質(zhì)結(jié)基礎(chǔ)制造出高性能光譜儀。研究過(guò)程可分為學(xué)習(xí)、測(cè)試與重構(gòu)三個(gè)階段。

圖 | 光譜重構(gòu)算法流程圖(來(lái)源:Science)

       關(guān)于計(jì)算重構(gòu)算法,上海交通大學(xué)蔡偉偉教授說(shuō):“我們可以認(rèn)為范德華異質(zhì)結(jié)能夠?qū)崿F(xiàn)類(lèi)似卷積函數(shù)的功能,而且通過(guò)改變其柵極電壓可以實(shí)現(xiàn)不同卷積函數(shù)之間的相互切換?!?/p>

       當(dāng)入射光打到異質(zhì)結(jié)探測(cè)器上時(shí),探測(cè)器就會(huì)對(duì)其光譜進(jìn)行“卷積”操作。如果事先通過(guò)實(shí)驗(yàn)標(biāo)定這些 “卷積函數(shù)”,則可以通過(guò)求解逆向問(wèn)題獲得入射光光譜,類(lèi)似于反卷積操作。對(duì)于異質(zhì)結(jié)光譜儀來(lái)說(shuō),器件和算法缺一不可,沒(méi)有算法的加持,該光譜儀的功能就無(wú)法實(shí)現(xiàn)。

       在計(jì)算重構(gòu)技術(shù)中,重構(gòu)光譜的準(zhǔn)確度和分辨率由器件光譜響應(yīng)對(duì)柵極電壓變化的靈敏度決定。

圖 | 可調(diào)范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀原理圖 (來(lái)源:Science)

       由二維材料構(gòu)成的范德華異質(zhì)結(jié),在其界面處的能帶對(duì)準(zhǔn)具有極高的可調(diào)性,且載流子的層間傳輸特性可被柵壓控制。

       對(duì)光譜儀進(jìn)行表征及測(cè)試,采用石墨烯作為背柵極材料

       研究人員選擇由二硫化鉬(MoS2)和二硒化鎢(WSe2)構(gòu)成的異質(zhì)結(jié)以實(shí)現(xiàn)所提出的光譜儀。異質(zhì)結(jié)上下由六方氮化硼(h-BN)包裹進(jìn)行保護(hù),并采用石墨烯(Graphene)作為背柵極材料。

圖 | 可調(diào)范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀的表征及測(cè)試(來(lái)源:Science)

       應(yīng)用石墨烯能夠有效提升柵極對(duì)溝道的控制能力,使該異質(zhì)結(jié)表現(xiàn)出明顯的反雙極特征,從而極大擴(kuò)展柵壓控制下的波長(zhǎng)依賴(lài)響應(yīng)度變化范圍,為實(shí)現(xiàn)高性能光譜重構(gòu)創(chuàng)造可能。

       柵壓依賴(lài)的光譜響應(yīng)度矩陣可以進(jìn)一步應(yīng)用于學(xué)習(xí)與重構(gòu)過(guò)程,并且在 405-845 納米的寬光譜范圍內(nèi)重構(gòu),獲得與商用光譜儀一致的窄帶光譜及復(fù)雜的寬帶光譜。

       研究人員還進(jìn)一步研究了學(xué)習(xí)過(guò)程中步長(zhǎng)與重構(gòu)光譜的峰值信噪比(PSNR,peak signal-to-noise ratio)之間的關(guān)系。根據(jù)擬合數(shù)據(jù),峰值信噪比的極大值分別達(dá)到 35.7dB (窄帶光譜)和 33.6dB (復(fù)雜寬帶光譜)。這表明,學(xué)習(xí)步長(zhǎng)可進(jìn)一步根據(jù) PSNR 確定,以達(dá)到最佳準(zhǔn)確度和分辨率。

       探求可調(diào)范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀的準(zhǔn)確度和分辨率極限

       接下來(lái),為探求可調(diào)范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀的準(zhǔn)確度和分辨率極限,研究人員以 0.1 納米的學(xué)習(xí)步長(zhǎng)對(duì) 675-685 納米的窄帶光進(jìn)行學(xué)習(xí)。隨后,研究者對(duì)該波長(zhǎng)范圍內(nèi)未知窄帶光進(jìn)行柵壓依賴(lài)的光電流響應(yīng)測(cè)量,并計(jì)算重構(gòu)其光譜。

圖 | 可調(diào)范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀的準(zhǔn)確度和光譜分辨率測(cè)試標(biāo)定結(jié)果(來(lái)源:Science)

       對(duì)比商用光譜儀的測(cè)量結(jié)果,重構(gòu)光譜峰值位置平均誤差為 0.36 納米,用極小值就能達(dá)到 0.04 納米。由此可以推斷,該光譜儀的準(zhǔn)確度與學(xué)習(xí)過(guò)程的步長(zhǎng)屬于同一數(shù)量級(jí),并由學(xué)習(xí)步長(zhǎng)決定。

       同時(shí),研究人員也對(duì)不同復(fù)雜寬帶光譜進(jìn)行了測(cè)試。對(duì)于寬帶光譜,其峰值分辨極限甚至可以達(dá)到 0.9 納米。這些優(yōu)異的性能指標(biāo)表明,該異質(zhì)結(jié)光譜儀以更小的尺寸在性能上超越目前最先進(jìn)的微型光譜儀。

       通過(guò)空間點(diǎn)掃描法進(jìn)行宏觀光譜成像

       在接下來(lái)的過(guò)程中,研究人員通過(guò)空間點(diǎn)掃描法,利用該異質(zhì)結(jié)光譜儀進(jìn)行宏觀光譜成像。期間,一束寬帶白光光源通過(guò)印有阿爾托大學(xué)圖案的透明基板中的某個(gè)像素后入射進(jìn)異質(zhì)結(jié)之中。

圖 | 基于可調(diào)范德華異質(zhì)結(jié)光譜儀的光譜成像(來(lái)源:Science)

       透射光通過(guò)測(cè)量異質(zhì)結(jié)柵壓依賴(lài)的光電流響應(yīng)以及計(jì)算重構(gòu)即可獲得該像素的光譜信息。如此往復(fù)掃描基板上的每個(gè)像素后,其圖案的高光譜照片可被準(zhǔn)確計(jì)算重現(xiàn)。

       光電子集成技術(shù)和計(jì)算方法的交叉融合是一個(gè)非常有前景的方向,通過(guò)與算法的結(jié)合可以創(chuàng)造全新的研究范式,促進(jìn)顛覆性技術(shù)被提出,打破傳統(tǒng)技術(shù)性能瓶頸。

       目前,重構(gòu)式微型光譜儀的研究思路主要還是探索不同半導(dǎo)體材料,實(shí)現(xiàn)具有不同光譜響應(yīng)(卷積函數(shù))的探測(cè)器陣列或光譜響應(yīng)可調(diào)單探測(cè)器。然而,研究人員還無(wú)法對(duì)材料的光譜響應(yīng)進(jìn)行精確調(diào)控?!拔磥?lái),通過(guò)人工智能算法我們可以逆向設(shè)計(jì)所需的材料及結(jié)構(gòu),使得光譜儀性能得到進(jìn)一步提升?!睏钭阢y教授說(shuō)。


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